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芯片外观自动视觉检测设备
分类：行业软件
阅读数：28826
2024-07-20 11:27:01

此设备采用AI以及传统算法想结合，利用分布式集群架构，采用高性能，高倍率工业摄像机对半导体芯片表面缺陷进行工业检测。


编写机器视觉核心算法 从0到1完成了安期完成并交互客户使用

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